Проверка полупроводниковых приборов
Проверка полупроводниковых приборов (диоды, терморезисторы и варисторы) измерением их сопротивления в прямом и обратном направлениях при помощи омметра не дает правильного представления о их параметрах. Это объясняется нелинейностью вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборов, из-за чего сопротивление в прямом и обратном направлениях зависит от величины приложенного напряжения. Для примера на рис. 1-6, а приведена вольт-амперная характеристика диода Д-20. При изменении величины приложенного напряжения от 0,7 до 0,9 в его сопротивление в прямом направлении уменьшается со 125 до 30 ом. Поэтому проверка полупроводниковых диодов омметром может выявить только такие неисправности, как обрыв или пробой. В этих случаях может наблюдаться наличие какого-то сопротивления, примерно одинакового по величине при измерении в прямом или обратном направлениях.
(рис.1-6) Вольт-амперные характеристики: а — полупроводникового диода; б—варистора.
1 2





